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描述：X射線熒光測(cè)厚儀是一款通過(guò)X射線照射方式測(cè)試電鍍層厚度的儀器，針對(duì)鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銀等鍍層厚度檢測(cè)，一次性多可以測(cè)5層，是一種無(wú)損儀器，整個(gè)操作通過(guò)電腦全過(guò)程清晰可見(jiàn)，而且操作非常簡(jiǎn)單，人員簡(jiǎn)單的培訓(xùn)即可上崗操作，降低了企業(yè)在來(lái)料（不合格）和生產(chǎn)過(guò)程中因產(chǎn)品鍍厚或者鍍薄而造成的不必要損失。
廠商性質(zhì)
經(jīng)銷(xiāo)商更新時(shí)間
2025-05-18訪問(wèn)量
1131| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷 |
XRF(THICK800A)電鍍鍍層測(cè)厚儀
X射線熒光測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)
新款Thick8000x射線熒光測(cè)厚儀秉承了上一代Thick800A的優(yōu)點(diǎn)，在此基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)了三維移動(dòng)平臺(tái)，*樣品觀測(cè)系統(tǒng)和圖像識(shí)別功能，滿(mǎn)足了槽狀樣品的測(cè)試和不同規(guī)格樣品的測(cè)試，同時(shí)加上大面積的高分辨率的探測(cè)器，大大提高了準(zhǔn)確度，為客戶(hù)提供更的測(cè)試，從而降低產(chǎn)品的成本，提高產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。
X射線熒光測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
可以分析從硫到鈾之間的元素，同時(shí)可以測(cè)試24種元素之多，含量范圍一般從2個(gè)PPM到百分之99.9；鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)，不同材質(zhì)略有差異，*SDD探測(cè)器，高清的工業(yè)攝像頭，儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺(tái)尺寸：393（W）x 258 （D）mm
部分產(chǎn)品
X熒光鍍層測(cè)厚儀品牌，x-ray鍍層測(cè)厚儀，x熒光鍍層測(cè)厚儀價(jià)格，鍍銀層無(wú)損測(cè)厚儀，x熒光鍍層測(cè)厚儀，金屬鍍層測(cè)厚儀，X熒光電鍍層測(cè)厚儀，鍍層膜厚測(cè)試儀，銅上鍍鎳金測(cè)厚儀，X熒光金屬膜厚測(cè)厚儀，x熒光金屬測(cè)厚儀，無(wú)損金屬鍍層測(cè)厚儀,鍍金膜厚儀,PCB表面鍍層測(cè)厚儀,金屬鍍層分析儀，鍍銀厚度測(cè)試儀，膜厚測(cè)試儀SANX，金屬鍍層膜厚儀，X射線熒光多鍍層厚度測(cè)量?jī)x，銅鍍銀X射線無(wú)損測(cè)厚儀，鍍層分析儀
應(yīng)用領(lǐng)域
x射線熒光測(cè)厚儀主要應(yīng)該用在電子電器（線路板/PCB）、五金工具、電鍍加工、制冷設(shè)備、半導(dǎo)體、五金配件、端子連接器、腔體等企業(yè)中。
鍍層產(chǎn)品圖
產(chǎn)品分類(lèi)
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